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安捷倫DSO5012A示波器檢測維修報告
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安捷倫DSO5012A示波器檢測維修報告
報告日期：2009年5月21日 報告人：***
| 客 戶 | 佛山市***電子科技有限公司 | 聯(lián)絡人 | *** | 電 話 | 0757- |
| 儀器型號 | DSO5012A | 機身號 | MY4820**** | ||
| 故障現(xiàn)象 | 1． 100mv以下檔（100mv,50mv,20mv）紋波較大； 2． 此示波器較另幾臺紋波較大； 3． 其中一探頭波形畸形失真較大。 | ||||
| 處理過程 | 1．將探頭接到示波器前面標準校準信號處進行探頭補償，用自帶起子附件（一字形頭）調節(jié)探頭鉤尖附近的電容，使波形趨于平正； 2．用自帶起子附件（十字形頭）調節(jié)探頭根部附近兩電容，使波形噪聲干擾及紋波波動減小； 3．將探頭接地接上，并確保接地良好，紋波明顯減小； 4．zui后按Utility→服務→本機自檢，將示波器進行自檢校正，并順利通過。 5．100mv以下低檔（100mv,50mv,20mv）較200mv以上（200mv ，500mv,1V,2V,5V,10V,20V,50V）稍有紋波，為儀器自身底噪，是真實信號，為正常現(xiàn)象。 | ||||
| 備 注 | 經(jīng)處理，儀器及探頭一切 | ||||
（安捷倫DSO5012A示波器檢測維修報告）
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數(shù)/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
- 電化學工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
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- 體積電阻，電阻計，記錄儀
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