技術文章您當前的位置：首頁 > 技術文章 > 邏輯分析儀的功能
邏輯分析儀的功能
日期：2013-08-06瀏覽：2563次
邏輯分析儀實時采集內存中存儲的數據，可以用于各種顯示和分析模式。一旦信息被存儲在系統中，它可以以多種格式查看，從定時波形直到與源代碼相關的指令助記符。隨著數字器件越來越快、越來越復雜，邏輯分析儀也在不斷的更新，具體有：
?。?）提供了相應的速度，可以捕獲設計中zui快速、zui短暫的異常事件；
?。?）提供了相應的容量，可以以高分辨率觀察所有通道；
?。?）提供了相應的存儲深度，可以解開多個周期中數十個、數百個、甚至數千個信號之間的關系；
波形顯示畫面是一種多通道詳細視圖，允許用戶查看捕獲的所有信號的時間關系，在很大程度上與示波器的顯示畫面類似。它通常用于定時分析，特別適合：診斷SUT硬件中的定時問題；把記錄的結果與仿真器輸出或產品技術資料中的定時圖進行對比，檢驗硬件是否正確運行；測量與硬件定時有關的特點，包括爭用條件、傳播時延、沒有脈沖或有脈沖。邏輯分析儀對各級數字調試都*。
邏輯分析儀觸發可以確認懷疑的問題，或發現*意想不到的錯誤。zui重要的是，觸發提供了各種各樣的工具，可以試驗與故障有關的假設，或定義間歇性事件。邏輯分析儀的一系列觸發選項是其通用性的標志。此外，高分辨率采樣結構可以揭示與信號特點有關的看不見的細節。
使用一只探頭同時采集狀態數據和高速定時數據，可以幫助設計人員收集與其器件有關的大量數量，然后分析定時圖和狀態活動之間的關系。其它特點如采集內存、顯示和分析功能、整合模擬工具、甚至模塊化特點融合在一起，使得邏輯分析儀成為查找數字問題、滿足緊迫的設計時間表的工具。
產品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產源表，替代keithley
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
- 電化學工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 哈希HACH/萬通Metrohm
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 艾卡IKA
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 梅特勒METTLER
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗箱
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 美國BK PRECISION
- 紅外熱像儀
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標準源/計量校準檢定設備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標準波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
- SHIMAZU島津
聯系我們
在線客服：
